納(na)米(mi)壓痕測(ce)試儀(yi)：NHT³是市(shi)場功能上最多(duo)且(qie)簡單易用的納(na)米(mi)壓痕測(ce)試儀(yi)
NHT³ 納米壓痕(hen)(hen)測(ce)試儀適合在納米到(dao)微米的尺度下測(ce)量(liang)硬度、彈(dan)性(xing)模量(liang)、蠕變以(yi)及其他表(biao)面特性(xing)。它的量(liang)程為 0.1 mN 至 500 mN，提(ti)供最大的通用性(xing)。由于獨(du)特的表(biao)面參比技術，無需(xu)等待其達到(dao)熱穩(wen)定狀態，開機立即進(jin)行儀器壓痕(hen)(hen)測(ce)試。“快速點(dian)陣”壓痕(hen)(hen)模式可實現高效率（每小(xiao)時(shi)測(ce)試量(liang)高達 600 個壓痕(hen)(hen)）。
簡單(dan)明了的納米壓痕測量
使用(yong)安東帕(pa)直觀(guan)的(de)軟件，可(ke)(ke)以輕松定(ding)義和分析(xi)從標準到高(gao)級方法執行的(de)各種儀器壓痕(hen)測(ce)量(liang)(liang)。集成顯微鏡提供(gong)大的(de)放大倍數，讓您(nin)能觀(guan)察到樣品表面(mian)，從而(er)直接(jie)確定(ding)測(ce)量(liang)(liang)位(wei)置(zhi)。而(er)且(qie)，參比環可(ke)(ke)全面(mian)保護壓痕(hen)針(zhen)尖(jian)不受(shou)碰(peng)撞，并且(qie)不到 2 分鐘即可(ke)(ke)更換測(ce)量(liang)(liang)針(zhen)尖(jian)。
高(gao)準(zhun)確度且測量時(shi)間短
該儀器(qi)的(de)(de)設計獨(du)特，頂部集(ji)成(cheng)了表面(mian)(mian)參比(bi)環，它在(zai)(zai)壓(ya)痕測(ce)量過程中(zhong)可以追蹤樣品表面(mian)(mian)。這(zhe)意味著(zhu)，它始終根據當前(qian)的(de)(de)表面(mian)(mian)位置來直接測(ce)量壓(ya)入深度。安東帕(pa)納米壓(ya)痕測(ce)試儀是唯(wei)一(yi)具(ju)備此獨(du)特功(gong)能的(de)(de)儀器(qi)，這(zhe)意味著(zhu) NHT³ 可提(ti)供(gong)準確(que)的(de)(de)結果和不易出(chu)錯的(de)(de)軟件校(xiao)正功(gong)能。這(zhe)種技術的(de)(de)另一(yi)個優(you)點是，在(zai)(zai)安裝樣品后可以立即開始測(ce)量，而無(wu)需等待數小時(shi)以便其達到熱穩定狀(zhuang)態。
快速點陣實現(xian)高效率
使用快(kuai)速(su)測(ce)(ce)量模(mo)式(shi)，每小時可(ke)通過(guo)真實的壓痕曲線測(ce)(ce)量多(duo)達(da) 600 個壓痕。借助參比(bi)式(shi)設(she)計，無需等待達(da)到熱穩定狀(zhuang)態，讓您每天可(ke)以安裝和立即測(ce)(ce)量大(da)量樣品。憑借用戶配置、測(ce)(ce)量模(mo)式(shi)、多(duo)樣品測(ce)(ce)量及(ji)可(ke)定制(zhi)報(bao)告，NHT³ 成(cheng)為(wei)市面(mian)上(shang)通量最高的儀器。
通過“Sinus 動(dong)態(tai)測量模式”進行其他動(dong)態(tai)機械分析 (DMA)
使用 Sinus 動態測量模式，您可以執行 DMA 分析來研究機械特性隨深度的變化情況（HIT、EIT 對比深度），并分析樣品的粘彈性（E'、E'：儲能和損耗模量、tan δ）。Sinus 動態測量模式還提供其他功能，例如壓痕針尖快速校正以及應力/應變分析。
技術規格
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最大載荷 [mN] |
500 |
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載荷分辨率 [nN] |
20 |
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載荷背底噪聲 [rms] [μN] |
≤0.5 |
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加載速度 [mN/min] |
最多 10000 種 |
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深度量程 [μm] |
200 |
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深度分辨率 [nm] |
0.01 |
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深度背底噪聲 [rms] [nm] |
≤0.15 |
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數據采集頻率 [kHz] |
192 |
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選件 |
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液體測試 |
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