固體分析分光光度計專家U-4100，實現了進一步的技術提高, UH4150問世！
現在，UH4150型分光光度計已經面世，秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累計發售1,500*1多臺。
 

切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。
安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

 

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。

平(ping)行光(guang)束可實現反射光(guang)和(he)散射光(guang)的精確測定(ding)。
入射角(jiao)對(dui)固(gu)體樣品(pin)鏡面(mian)反(fan)射率的測定非常重要。對(dui)于會聚光束，由(you)于入射角(jiao)根據透鏡的焦距等(deng)因(yin)(yin)素會不同(tong)(tong)，因(yin)(yin)此，像導電多層(ceng)膜和棱鏡等(deng)光學薄膜的模擬設計值(zhi)將(jiang)與實際測定值(zhi)不同(tong)(tong)。
但對(dui)于(yu)平(ping)行(xing)光束，相對(dui)于(yu)樣(yang)品入射角始終相同(tong)，實現了高精度鏡面(mian)反射率(lv)的測(ce)定(ding)。此外(wai)，平(ping)行(xing)光束可用于(yu)擴散(san)率(lv)（霧度）的評(ping)價和透鏡透過率(lv)的測(ce)定(ding)。

可提供適合不同測定目的(de)的(de)多種(zhong)檢(jian)測器。
可(ke)使用(yong)八種不同材料、尺寸(cun)和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學設計。
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。
 

兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
 

比U-4100型更高的樣品通量。
在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5   UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。

系統產品(pin)線
積分球檢測系統
可使用各種60 mm積分球。
選配件：150 mm積分球或角度連續可變絕 對反射附件（此處列出的是60 mm標準積分球）。
直射光檢測系統
直射光檢測器內置于分光光度計內。提供其他選配檢測器替換直射光檢測器, 如各種積分球和角度連續可變絕 對反射附件。

應用范例

微小樣品透過率測定
微小樣品透過率測定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測定。
微小樣品透過率測定（P/N 1J0-0204）
規格掩膜類型適合樣品尺寸3 mm 掩膜 （標配）5 - 20, 厚度等于或小于3 mm1 mm 掩膜 （選配）3 - 20, 厚度等于或小于3 mm* 更換光源掩膜必須要使用隨附4-mm光源掩膜。

漫反射率測定
可將樣品放在積分球后面（樣品側的入射角為0°）測定粉末等樣品的漫反射率。
60 mm標準積分(fen)球（全反射(she)和(he)漫反射(she)）（P/N 1J1-0120）
規(gui)格入射角0°波長(chang)范圍(wei)240 - 2,600 nm

參數規格